雙折射分布即時可視化透明成型產(chǎn)品2D雙折射評價裝置的測量原理

更新時間：2025-01-06

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Photonic Lattice 光子晶格

PA-200

實現(xiàn)光學(xué)元件的“雙折射評價”！！

即時可視化透明成型產(chǎn)品（例如透鏡、光盤、Doko 板等）
的雙折射分布。

二維雙折射評價裝置PA-200外觀

測量數(shù)據(jù)示例
軟件圖形用戶界面屏幕
雙折射面內(nèi)分布的高速定量評價

多種圖形顯示功能

雙折射分布的 3D 顯示，顯示高度上的雙折射量

配備易于使用的專用軟件PA-View

可以進行視頻拍攝和分析。（選項）

還有一種用于測量微量樣品的顯微鏡類型（PA-micro）。（新發(fā)布）

由于強大的內(nèi)應(yīng)力或扭曲的晶體結(jié)構(gòu)，折射率可能會根據(jù)方向略有變化。這稱為雙折射。
雙折射物質(zhì)具有改變穿過其的光的偏振狀態(tài)的特性，廣泛應(yīng)用于液晶面板、光盤等物品。
雙折射測量有時也用于評估內(nèi)應(yīng)力。

然而，由于測量雙折射通常需要時間，因此即使需要定量測量表面分布，也可以使用多個點的點測量作為替代方案。
使用PA200，您可以通過簡單的操作快速測量雙折射的表面分布。這使得測量整個樣品及其整個表面成為可能。

利用兩種獨的特的技術(shù)來快速測量雙折射的表面分布。

技術(shù)1：頭部內(nèi)置偏光圖像傳感器
該傳感器與偏振相機 PI00 類似，可讓您即時捕捉偏振光平面分布的圖像。
技術(shù)2：高速偏振測量算法
通過對每個像素進行高速高級偏振計算的程序，首的次的實現(xiàn)了高速雙折射測量。

操作簡單。
首先，在不放置待測物體的情況下拍攝光源。
您只需將樣品放在其上，然后單擊測量按鈕即可依次測量樣品整個表面的雙折射分布。

頭部內(nèi)部結(jié)構(gòu)輪廓由于雙折射而改變偏振的示例雙折射測量的基本原理

注1) 可測量范圍因測量材料而異。
*產(chǎn)品規(guī)格如有更改，恕不另行通知。
*本產(chǎn)品可測量的內(nèi)部畸變是光學(xué)測量的，測量值顯示為光學(xué)相位差（單位：nm）。

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