shimadzu粉末測量粒度分布分析儀測量低濃度離子色譜儀

shimadzu粉末測量粒度分布分析儀測量低濃度SALD-7500的介紹
對納米粒子的實際應用最重要的分散/聚集特性的評估，可以在大范圍內(nèi)實時評估。■強烈需要測量低濃度納米粒子的粒徑分布和

產(chǎn)品型號：SALD-7500
廠商性質：經(jīng)銷商
更新時間：2023-04-13
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shimadzu粉末測量粒度分布分析儀測量低濃度SALD-7500的介紹

對納米粒子的實際應用最重要的分散/聚集特性的評估，可以在大范圍內(nèi)實時評估。■強烈需要測量低濃度納米粒子的粒徑分布和高度準確且具有高靈敏度的光吸收納米粒子。在納米范圍內(nèi)實現(xiàn)了比傳統(tǒng)系統(tǒng)高約 10 倍的靈敏度，并且可以測量小于 1ppm 的低濃度樣品。現(xiàn)在可以測量以前被放棄的低濃度納米粒子。
■單一測量裝置即可覆蓋微小氣泡（100nm～60μm的微小氣泡），實時追蹤氣泡直徑的變化。
■具有專用選項的生物制藥聚集評價系統(tǒng)也可用于評價生物制藥中所含的亞可見聚集體。?使用單一光源、單一光學系統(tǒng)和單一測量原理，可以連續(xù)測量 7 nm 至 800 μm 測量范圍內(nèi)的粒子變化而不會中斷。
?一次粒子、凝集物、異物可以用一臺裝置測定，因此可以根據(jù)分散條件確認廣泛的凝集特性。一種測量原理、一種光學系統(tǒng)、一種光源覆蓋待測粒徑范圍，實現(xiàn)全無縫的單一寬量程。不會出現(xiàn)由于多個光學系統(tǒng)的組合而導致的數(shù)據(jù)不連續(xù)，并且單一標準始終可以在整個測量范圍內(nèi)測量準確的粒度分布。
此外，通過采用基于先進散射光強度跟蹤技術的SLIT光學系統(tǒng)，現(xiàn)在可以在單個檢測表面上連續(xù)檢測前向散射光，范圍可達60度，克服了傳統(tǒng)智慧。這使得可以在細顆粒區(qū)域中獲得高分辨率。

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